Select your language

Interferometry

Image
Image


Systemy skonfigurowane i "szyte na miarę"

Interferometry


Interferometry firmy APRE INSTRUMENTS (USA) to:

  • Szybki pomiar poniżej 5s
  • Przygotowanie powierzchni nie jest wymagane
  • Wysoka dokładność
  • Wysoka powtarzalność
  • 4 źródła
  • Bezpłatne dożywotnie oprogramowanie


W tej kategorii:

  • Interferometry Fizeau
  • Interferometry LUPI
  • Dostępne źródła
  • Systemy kastomizowane - Możliwość zbudowania systemu według parametrów kupującego.


Możliwe pomiary kształtu powierzchni, średnich częstotliwości przestrzennych, przesunięcie czoła fali, cienkich warstw, pryzmatów i dużych zwierciadeł za pomocą jednego interferometru.


Accessories

Optical

Mechanical

Radius

Transmission Flats
Transmission Spheres
Reference Flats
Beam Expanders
CGH
Pellicles
Mounts
Mount Accessories
Vertical Workstations
Custom
Guide Rail (manual)
Encoded
Interferometric
SCI – call for information



Image

Masz pytania?

Napisz do nas

LUPI S9 | SR

Interferometry Fizeau

Image

S50, S100, S150 SR

S50, S100, S150 HR

S50, S100, S150 HRx

S300 | HR

1 megapixel @160 Hz diffraction-limited imaging4 megapixel @180 Hz diffraction-limited imaging9 megapixel imaging for the ultimate slope acceptance and resolution4 megapixel @180 Hz diffraction-limited imaging
10X virtual zoom20X virtual zoom
20X virtual zoom beats a 1-Megapixel 4″ Zoom Fizeau resolution!
2X greater slope acceptance4X greater slope acceptance 



 SRHRHRxSRHRHRxSRHRHRxHR
S50S50S50S100S100S100S150S150S150S300
Output Diameter51 mm51 mm51 mm102 mm102 mm102 mm153 mm153 mm153 mm304 mm
Image Resolution100 μm50 μm 35 μm200 μm100 μm  70 μm300 μm150 μm 105 μm300 μm
Image Distortion<0.1%<0.06%<0.06%<0.1%<0.06%<0.06%<0.1%<0.06%<0.06%<0.06%
Fringe Resolution (fr/aperture)>300>600>600>300>600>600>300>600>600>500

Retrace Error3

@ fringes

< λ/10

@256

< λ/10 4

@512

< λ/15  4

@512

< λ/10

@256

< λ/10 4

@512

< λ/15  4

@512

< λ/10

@256

< λ/10 4

@512

< λ/15 4

@512

 < λ/15  4

  @200 

RMS Simple Repeatability1<0.6 nm RMS 1σ – with NO averaging         
RMS Wavefront Repeatability2<0.6 nm RMS 1σ – with NO averaging         
Measurable Part Reflectivity0.1%to 40% direct and >41% with attenuation filter or coatings0.5 - 100% 


1 RMS Simple Repeatability is defined as 2X the s tandard deviation of the RMS for 36 sequential measurements (0 averages ) of a short plano cavity

2 RMS Wavefront Repeatability is defined as the mean RMS difference between a synthetic reference (defined as the a verage of a ll 36 sequential measurements ) and each measurement plus 2X the standard deviation

3 Retrace Error is defined as the PV residual error between a nulled measurement (the reference), subtracted from a measurement with 500 fringes of tilt, and expres sed by the first 36 Zernike polynomials

4 λ/20 optionally available

S50/S100/S150 HRx

S50/S100/S150 HR

S50/S100/S150 SR

Interferometr LUPI


Apre’s Twyman-Green LUPI Interferometer conducts system wavefront testing with the flexibility you need:

  • 1 megapixel imaging
  • Multiple configurations
  • Visual, vibration tolerant PSI or vibration insensitive
  • Standard (633 nm, 1550 nm) and custom wavelengths


LUPI S9 | SR

Image

Źródła do interferometru



SpectrÄ: SCI

ÄTLas 633

HeNe Laser

Diode Laser

Temporal Coherence Controlled
Light Source
for Spectrally Controlled Interferometry
for Prisms, Flats, and Substrates
Fiber-Coupled Tunable Laser
Interferometry
HeNe right Mode for Easy Cavity
Alignment
Diode Laser with Bright Mode for Easy Cavity Alignment
Radius of CurvatureLarge OpticsThe standard: Required for CGH
applications
Bright mode for easy cavity alignment
Front and Back SurfacesCavities from 5 mm-2500 mm

DomesWavelength Shifting Upgrades

Material Homogeneity


Stacked Substrates


More


Jak dobrać odpowiednie źródło?

Systemy kastomizowane


Apre Instruments dostarcza oprócz standardowych rozwiązań instrumenty wraz z oprogramowaniem o specyfikacjach dostosowanych do indywidualnych potrzeb.

  • Ekspertyza w zakresie zastosowań i projektowania interferometrów: Aplikacja, konstrukcja optyczna i mechaniczna, a także wiedza specjalistyczna w zakresie oprogramowania i algorytmów znajdują się w Apre Instruments.
  • Szybko: Szybko identyfikujemy najlepszą architekturę, aby zrównoważyć Twoje wymagania i harmonogram. Nasze doświadczenie projektowe przyspiesza rozwój solidnych, nadających się do produkcji systemów. Zaczynając od pierwszych zasad i pustego pliku CAD lub naszej zastrzeżonej biblioteki projektów, Apre Instruments może wybrać najszybszą ścieżkę.
  • Elastyczność: Apre Instruments może dostarczyć system dostosowany do Twoich potrzeb.
  • Kompletne: Apre Instruments może dostarczyć kompletne rozwiązanie: interferometr, zastrzeżone oprogramowanie, sceny i osprzęt.




Z tego 3-minutowego filmu dowiesz się, czym różni się on od interferometrów laserowych Fizeau i interferometrów światła białego. 

Spectrally Controlled Interferometry

Image
Specyfikacja


THE SCI SOURCE CAN BE ADDED TO ANY S-Series INTERFEROMETER.

This specification sheet outlines the host interferometer enhanced performance with the addition of SCI.



Front/Back Surfaces

Radius of Curvature

Prisms: Macro & Micro

Stacked Substrates

Homogeneity

TTV (75 µm)

Domes

Micro Prism Group

Dostawcy

Nasi partnerzy w tej kategorii
Image

Heard on the Internet

 

Imagination is more important than knowledge.

 Albert Einstein