SPECTROPOL

Menu serwisu

STRONA GŁÓWNA

- - - - - - -

APARATURA POMIAROWA

Badania cienkich warstw

Analiza wielkości cząstek

- - - - - - -

LASERY i ŹRÓDŁA ŚWIATŁA

Źródła światła

Lasery wg zastosowan

Systemy laserowe

- - - - - - -

OPTYKA I OPTOMECHANIKA

- - - - - - -

- - - - - - -

- - - - - - -

- - - - - - -

Logowanie

Pomiar plazmy

The PlasCalc-2000 Plasma Monitoring and Process Control System is based on optical UV/VIS/NIR emissions-spectroscopy. The system can be programmed for all individual requirements.

PDF

Drukuj

E-mail

The PlasCalc-2000 Plasma Monitoring and Process Control System is based on optical UV/VIS/NIR emissions-spectroscopy.

Czytaj całość...

STRONA GŁÓWNA | APARATURA POMIAROWA | Spektrometria | Badania cienkich warstw | Analiza metali | Analiza gazów | Analiza wielkości cząstek | Pomiar plazmy | Kolorymetria | Mierniki tlenu | LASERY i ŹRÓDŁA ŚWIATŁA | Źródła światła | Lasery | Lasery wg zastosowan | Systemy laserowe | Diody laserowe | OPTYKA I OPTOMECHANIKA | Optyka | Mechanika | OBRAZOWANIE | Mikroskopy | Kamery | KATALOGI | O NAS |