Interferometry
Systemy skonfigurowane i "szyte na miarę"
Interferometry
Interferometry firmy APRE INSTRUMENTS (USA) to:
- Szybki pomiar poniżej 5s
- Przygotowanie powierzchni nie jest wymagane
- Wysoka dokładność
- Wysoka powtarzalność
- 4 źródła
- Bezpłatne dożywotnie oprogramowanie
W tej kategorii:
- Interferometry Fizeau
- Interferometry LUPI
- Dostępne źródła
- Systemy kastomizowane - Możliwość zbudowania systemu według parametrów kupującego.
Możliwe pomiary kształtu powierzchni, średnich częstotliwości przestrzennych, przesunięcie czoła fali, cienkich warstw, pryzmatów i dużych zwierciadeł za pomocą jednego interferometru.
Accessories
Optical | Mechanical | Radius |
| Transmission Flats Transmission Spheres Reference Flats Beam Expanders CGH Pellicles | Mounts Mount Accessories Vertical Workstations Custom | Guide Rail (manual) Encoded Interferometric SCI – call for information |
Masz pytania?
Napisz do nas
LUPI S9 | SR
Interferometry Fizeau
S50, S100, S150 SR | S50, S100, S150 HR | S50, S100, S150 HRx | S300 | HR |
| 1 megapixel @160 Hz diffraction-limited imaging | 4 megapixel @180 Hz diffraction-limited imaging | 9 megapixel imaging for the ultimate slope acceptance and resolution | 4 megapixel @180 Hz diffraction-limited imaging |
| 10X virtual zoom | 20X virtual zoom | 20X virtual zoom beats a 1-Megapixel 4″ Zoom Fizeau resolution! | |
| 2X greater slope acceptance | 4X greater slope acceptance |
| SR | HR | HRx | SR | HR | HRx | SR | HR | HRx | HR | |
| S50 | S50 | S50 | S100 | S100 | S100 | S150 | S150 | S150 | S300 | |
| Output Diameter | 51 mm | 51 mm | 51 mm | 102 mm | 102 mm | 102 mm | 153 mm | 153 mm | 153 mm | 304 mm |
| Image Resolution | 100 μm | 50 μm | 35 μm | 200 μm | 100 μm | 70 μm | 300 μm | 150 μm | 105 μm | 300 μm |
| Image Distortion | <0.1% | <0.06% | <0.06% | <0.1% | <0.06% | <0.06% | <0.1% | <0.06% | <0.06% | <0.06% |
| Fringe Resolution (fr/aperture) | >300 | >600 | >600 | >300 | >600 | >600 | >300 | >600 | >600 | >500 |
Retrace Error3 @ fringes | < λ/10 @256 | < λ/10 4 @512 | < λ/15 4 @512 | < λ/10 @256 | < λ/10 4 @512 | < λ/15 4 @512 | < λ/10 @256 | < λ/10 4 @512 | < λ/15 4 @512 | < λ/15 4 @200 |
| RMS Simple Repeatability1 | <0.6 nm RMS 1σ – with NO averaging | |||||||||
| RMS Wavefront Repeatability2 | <0.6 nm RMS 1σ – with NO averaging | |||||||||
| Measurable Part Reflectivity | 0.1%to 40% direct and >41% with attenuation filter or coatings | 0.5 - 100% | ||||||||
1 RMS Simple Repeatability is defined as 2X the s tandard deviation of the RMS for 36 sequential measurements (0 averages ) of a short plano cavity
2 RMS Wavefront Repeatability is defined as the mean RMS difference between a synthetic reference (defined as the a verage of a ll 36 sequential measurements ) and each measurement plus 2X the standard deviation
3 Retrace Error is defined as the PV residual error between a nulled measurement (the reference), subtracted from a measurement with 500 fringes of tilt, and expres sed by the first 36 Zernike polynomials
4 λ/20 optionally available
Interferometr LUPI
Apre’s Twyman-Green LUPI Interferometer conducts system wavefront testing with the flexibility you need:
- 1 megapixel imaging
- Multiple configurations
- Visual, vibration tolerant PSI or vibration insensitive
- Standard (633 nm, 1550 nm) and custom wavelengths
LUPI S9 | SR
Źródła do interferometru
SpectrÄ: SCI | ÄTLas 633 | HeNe Laser | Diode Laser |
| Temporal Coherence Controlled Light Source for Spectrally Controlled Interferometry for Prisms, Flats, and Substrates | Fiber-Coupled Tunable Laser Interferometry | HeNe right Mode for Easy Cavity Alignment | Diode Laser with Bright Mode for Easy Cavity Alignment |
| Radius of Curvature | Large Optics | The standard: Required for CGH applications | Bright mode for easy cavity alignment |
| Front and Back Surfaces | Cavities from 5 mm-2500 mm | ||
| Domes | Wavelength Shifting Upgrades | ||
| Material Homogeneity | |||
| Stacked Substrates | |||
| More |
Systemy kastomizowane
Apre Instruments dostarcza oprócz standardowych rozwiązań instrumenty wraz z oprogramowaniem o specyfikacjach dostosowanych do indywidualnych potrzeb.
- Ekspertyza w zakresie zastosowań i projektowania interferometrów: Aplikacja, konstrukcja optyczna i mechaniczna, a także wiedza specjalistyczna w zakresie oprogramowania i algorytmów znajdują się w Apre Instruments.
- Szybko: Szybko identyfikujemy najlepszą architekturę, aby zrównoważyć Twoje wymagania i harmonogram. Nasze doświadczenie projektowe przyspiesza rozwój solidnych, nadających się do produkcji systemów. Zaczynając od pierwszych zasad i pustego pliku CAD lub naszej zastrzeżonej biblioteki projektów, Apre Instruments może wybrać najszybszą ścieżkę.
- Elastyczność: Apre Instruments może dostarczyć system dostosowany do Twoich potrzeb.
- Kompletne: Apre Instruments może dostarczyć kompletne rozwiązanie: interferometr, zastrzeżone oprogramowanie, sceny i osprzęt.
Z tego 3-minutowego filmu dowiesz się, czym różni się on od interferometrów laserowych Fizeau i interferometrów światła białego.
Spectrally Controlled Interferometry
THE SCI SOURCE CAN BE ADDED TO ANY S-Series INTERFEROMETER.
This specification sheet outlines the host interferometer enhanced performance with the addition of SCI.
Dostawcy
